前面我们介绍了弱电流测量中误差的来源及一些处理方法,现在讲几个实际的应用案例。
第一章和第二章已经分别对静电计和皮安表以及弱电流测量的方法等问题进行了介绍。特别是,在第2.3节讨论了各种严重影响测量准确度的误差源。
弱电流测量的各种应用包括电容器泄漏测量,低电流半导体器件(二极管和MOSFET)测量,光电倍增管的光测量,离子束测量以及CNT FET的I-V特性。 为了使这些测量的准确性更高,请确保使用低电流前几节中讨论的优化技术。
本集讲解电容器漏电的测量。对应手册第4.3.1章节。
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