在材料的分析方法中透射电镜和扫描电镜有什么区别

2022-11-04 05:59

3个回答
TEM原理是透射,用于分析物相或表面(倍率较高)。SEM原理是反射,用于分析表面和成分(如果有能谱的话)。
扫描电镜主要是看样品的表面形貌,最好是微米级的,效果比较好尤其是有色院做的比较好,可以放大三十万倍,但是纳米级的粉体最好不用扫描电镜,应该选择透射电镜,同时还可以做电子衍射高分辨率投射等,分析样品的晶面与晶格。
检测内容:一般的TEM可以做形貌分析,物相分析,结构及缺陷分析,以及判定晶体生长方式等等。SEM主要用于样品的表面形貌分析(二次电子),成分分析(背散射电子),以及成分的点线面分析。对于带有能谱或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。制样方法:SEM的样品要求很简单,导电就行,不导电喷碳喷金喷银让他导电;TEM制备样品很复杂,尤其是对接的样品。新手嘛,做一个好的样品,得至少半个月吧。能在这个时间内完成的都是高手!还有……先说这么多!
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