在材料的分析方法中透射电镜和扫描电镜有什么区别

TEM原理是透射，用于分析物相或表面（倍率较高）。SEM原理是反射，用于分析表面和成分（如果有能谱的话）。

扫描电镜主要是看样品的表面形貌，最好是微米级的，效果比较好尤其是有色院做的比较好，可以放大三十万倍，但是纳米级的粉体最好不用扫描电镜，应该选择透射电镜，同时还可以做电子衍射高分辨率投射等，分析样品的晶面与晶格。

检测内容：一般的TEM可以做形貌分析，物相分析，结构及缺陷分析，以及判定晶体生长方式等等。SEM主要用于样品的表面形貌分析（二次电子），成分分析（背散射电子），以及成分的点线面分析。对于带有能谱或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。制样方法：SEM的样品要求很简单，导电就行，不导电喷碳喷金喷银让他导电；TEM制备样品很复杂，尤其是对接的样品。新手嘛，做一个好的样品，得至少半个月吧。能在这个时间内完成的都是高手！还有……先说这么多！